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行间转移电荷耦合器件位移损伤效应测试表征技术研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  刘元
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电荷耦合器件  辐射损伤  位移损伤效应  温度效应  热像素  
TDI-CCD辐射效应测试技术及总剂量效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  张乐情
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Tdi-ccd  60co-γ射线  电子辐照  辐射损伤  退火  
应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计 期刊论文
半导体技术, 2012, 卷号: 37, 期号: 7, 页码: 562-566
Authors:  张乐情;  郭旗;  李豫东;  卢健;  张兴尧;  胥佳灵;  于新
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电荷耦合器件  辐射效应  现场可编程门阵列  通用测试电路  电离总剂量  
CCD在不同注量率电子辐照下的辐射效应研究 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 3, 页码: 346-350
Authors:  李豫东;  郭旗;  陆妩;  周东;  何承发;  余学峰
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线阵ccd  电子辐照  电离总剂量效应  时间相关效应  
CCD的总剂量效应及加固方法研究 会议论文
, 三亚, 2011-11-01
Authors:  李豫东;  汪朝敏;  郭旗;  刘昌举;  任迪远;  唐遵烈
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图像传感器  电离总剂量效应  60coγ射线  电子辐照  抗辐射加固  
电荷耦合器件的~(60)Co γ射线辐照损伤退火效应 期刊论文
原子能科学技术, 2010, 卷号: 44, 期号: 5, 页码: 603-607
Authors:  李鹏伟;  郭旗;  任迪远;  于跃;  兰博;  李茂顺
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商用ccd  氧化物电荷  界面态  退火效应  
CCD在不同通量电子辐照下的损伤机理研究 会议论文
, 贵阳, 2010-08-13
Authors:  李豫东;  郭旗;  陆妩;  余学峰;  何承发;  李茂顺;  兰博
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线阵ccd  电子辐照  总剂量电离效应  时间相关效应  
CCD器件的辐射损伤效应及其机理研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2009
Authors:  李鹏伟
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商用ccd  60coγ射线  电子束辐照  辐射损伤  敏感参数  评估方法  
CCD器件总剂量辐射损伤的剂量率效应 会议论文
, 沈阳, 2009
Authors:  李鹏伟;  郭旗;  任迪远;  于跃;  王义元;  高博
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氧化物电荷  时间相关效应  辐射损伤  剂量率效应  光响应灵敏度  电荷耦合器件