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辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
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Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
γ射线和电子束对SOI MOSFET栅介质可靠性影响研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  苏丹丹
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Mosfet  Tddb  辐射效应  可靠性  
纳米PMOSFET负偏压温度不稳定性测试方法 期刊论文
固体电子学研究与进展, 2017, 卷号: 37, 期号: 6, 页码: 433-437
Authors:  崔江维;  郑齐文;  余徳昭;  周航;  苏丹丹;  马腾;  郭旗;  余学峰
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纳米器件  P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管  负偏压温度不稳定性  
星用纳米MOS器件的总剂量辐射效应与NBTI效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  余德昭
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Mosfet  辐射效应  Nbti  可靠性  
3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  汪波
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Cmos图像传感器  钳位光电二极管  电离总剂量效应  位移损伤效应  抗辐射加固  
混合工艺DAC及ADC的总剂量效应研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  王信
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CCD空间累积辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  文林
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电荷耦合器件  电离总剂量效应  位移效应  损伤机理  敏感参数  基本单元  
混合工艺数模转换器总剂量效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2013
Authors:  王信
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数模转换器  总剂量效应  Bicmos Cbcmos Lc2mos 偏置  剂量率效应  
CCD与CMOS图像传感器辐射效应测试系统 期刊论文
光学精密工程, 2013, 卷号: 21, 期号: 11, 页码: 2778-2784
Authors:  李豫东;  汪波;  郭旗;  玛丽娅;  任建伟
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辐射效应  抗辐射性能  
Web应用软件性能测试研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2008
Authors:  程晶
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Web 应用  性能测试  测试流程  评价模型  测试工具  Web 应用  性能测试  测试流程  评价模型  测试工具