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CCD空间累积辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  文林
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电荷耦合器件  电离总剂量效应  位移效应  损伤机理  敏感参数  基本单元  
电离辐射对部分耗尽绝缘体上硅器件低频噪声特性的影响 期刊论文
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 7, 页码: 393-398
Authors:  刘远;  陈海波;  何玉娟;  王信;  岳龙;  恩云飞;  刘默寒
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绝缘体上硅  部分耗尽  电离辐射  低频噪声  
CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应 期刊论文
强激光与粒子束, 2015, 卷号: 27, 期号: 9, 页码: 210-214
Authors:  汪波;  李豫东;  郭旗;  文林;  孙静;  王帆;  王帆;  玛丽娅
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Cmos有源像素传感器  中子辐照  像素单元  饱和输出电压  位移效应  
Radiation effects on the low frequency noise in partially depleted silicon on insulator transistors 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 7
Authors:  Liu, Y (Liu Yuan);  Chen, HB (Chen Hai-Bo);  He, YJ (He Yu-Juan);  Wang, X (Wang Xin);  Yue, L (Yue Long);  En, YF (En Yun-Fei);  Liu, MH (Liu Mo-Han)
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SilicOn On Insulator  Partially Depleted  Ionizing Radiation  Low Frequency Noise  
基于新型双极测试结构的低剂量率辐照感生缺陷研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2013
Authors:  席善斌
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低剂量率辐射损伤增强效应  栅控晶体管  电荷分离  损伤机理  竞争模型  
SbTe基相变存储材料的辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2013
Authors:  周东
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相变材料  总剂量辐射效应  位移效应  电子束诱导相变  激光诱导相变  
大规模集成电路抗辐射性能无损筛选方法 期刊论文
强激光与粒子束, 2013, 卷号: 25, 期号: 2, 页码: 485-489
Authors:  周东;  郭旗;  任迪远;  李豫东;  席善斌;  孙静;  文林
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大规模集成电路  无损筛选  辐射损伤  回归分析  物理应力  
大规模集成电路抗辐射性能无损筛选方法研究 期刊论文
原子能科学技术, 2012, 卷号: 46, 期号: 11, 页码: 1388-1392
Authors:  周东;  郭旗;  李豫东;  李明;  席善斌;  许发月;  王飞
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无损筛选  辐射损伤  回归分析  物理应力  
静态随机存储器抗总剂量辐射性能无损筛选方法研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2009
Authors:  于跃
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Sram  无损筛选  物理应力  线性回归  测试系统