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静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  郑齐文
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大规模集成电路  总剂量辐射  静态随机存储器  损伤机制  试验方法  
research on sram functional failure mode induced by total ionizing dose irradiation 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2013, 卷号: 62, 期号: 11
Authors:  Zheng Qi-Wen;  Yu Xue-Feng;  Cui Jiang-Wei;  Guo Qi;  Ren Di-Yuan;  Cong Zhong-Chao
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Sram  Function Failure  Test Pattern  Data Retention Fault  
总剂量辐射环境中的静态随机存储器功能失效模式研究 期刊论文
物理学报, 2013, 卷号: 62, 期号: 11, 页码: 378-384
Authors:  郑齐文;  余学峰;  崔江维;  郭旗;  任迪远;  丛忠超
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静态随机存储器  功能失效  测试图形  数据保存错误