XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-10 of 46 Help

Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
新型紫外、深紫外双折射晶体和非线性光学晶体的探索、生长及性能研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  陈幸龙
Adobe PDF(9941Kb)  |  Favorite  |  View/Download:170/0  |  Submit date:2018/07/06
双折射晶体  非线性光学晶体  偏振器件  硼酸盐  铝硅酸盐  
沟道宽度对65nm金属氧化物半导体器件负偏压温度不稳定性的影响研究 期刊论文
电子学报, 2018, 卷号: 46, 期号: 5, 页码: 1128-1132
Authors:  崔江维;  郑齐文;  余德昭;  周航;  苏丹丹;  马腾;  魏莹;  余学峰;  郭旗
Adobe PDF(1320Kb)  |  Favorite  |  View/Download:50/0  |  Submit date:2018/07/06
65nm  负偏压温度不稳定性  沟道宽度  
基于平面MO3基团的新型紫外无机光学晶体的设计组装及性能研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  刘莉莉
Adobe PDF(10220Kb)  |  Favorite  |  View/Download:60/0  |  Submit date:2017/09/26
双折射晶体  硼酸盐  碳酸盐  硝酸盐  
γ射线和电子束对SOI MOSFET栅介质可靠性影响研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  苏丹丹
Adobe PDF(6461Kb)  |  Favorite  |  View/Download:50/0  |  Submit date:2017/09/26
Mosfet  Tddb  辐射效应  可靠性  
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
Adobe PDF(3489Kb)  |  Favorite  |  View/Download:50/0  |  Submit date:2017/09/26
Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理 期刊论文
光学精密工程, 2017, 卷号: 25, 期号: 10, 页码: 2676-2681
Authors:  冯婕;  李豫东;  文林;  周东;  马林东
Adobe PDF(327Kb)  |  Favorite  |  View/Download:80/0  |  Submit date:2017/11/20
Cmos图像传感器  辐照  光子转移曲线  转换增益  
基于X射线的晶圆级器件辐照与辐射效应参数提取设备的设计与实现 期刊论文
发光学报, 2017, 卷号: 38, 期号: 6, 页码: 828-834
Authors:  荀明珠;  李豫东;  郭旗;  何承发;  于新;  于钢;  文林;  张兴尧
Adobe PDF(1843Kb)  |  Favorite  |  View/Download:97/0  |  Submit date:2017/08/01
抗辐射加固  试验装置  晶圆级器件  X射线辐照  辐射效应  参数提取  
3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  汪波
Adobe PDF(3966Kb)  |  Favorite  |  View/Download:597/0  |  Submit date:2016/09/27
Cmos图像传感器  钳位光电二极管  电离总剂量效应  位移损伤效应  抗辐射加固  
60Co-γ射线和电子束对CCD辐射效应的比较研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  武大猷
Adobe PDF(3002Kb)  |  Favorite  |  View/Download:92/0  |  Submit date:2016/09/27
电荷耦合器件  60co-γ辐照  电子辐照  辐射损伤  低剂量率损伤增强效应  
星用纳米MOS器件的总剂量辐射效应与NBTI效应研究 学位论文
, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  余德昭
Adobe PDF(1666Kb)  |  Favorite  |  View/Download:132/0  |  Submit date:2016/09/27
Mosfet  辐射效应  Nbti  可靠性