XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-10 of 10 Help

Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
典型模拟电路的单粒子瞬态效应研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2019
Authors:  于新
Adobe PDF(9392Kb)  |  Favorite  |  View/Download:24/0  |  Submit date:2019/07/15
模拟电路  单粒子效应  等效LET  
变温辐照对双极电压比较器LM2903在不同偏置状态下的单粒子瞬态影响 期刊论文
原子能科学技术, 2019, 卷号: 53, 期号: 6, 页码: 1122-1126
Authors:  姚帅;  陆妩;  于新;  李小龙;  王信;  刘默寒;  孙静;  常耀东;  席善学;  何承发;  郭旗
Adobe PDF(459Kb)  |  Favorite  |  View/Download:16/0  |  Submit date:2019/06/21
变温辐照方法  双极电压比较器  电离总剂量  单粒子瞬态  偏置状态  协同效应  
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
Adobe PDF(3489Kb)  |  Favorite  |  View/Download:62/0  |  Submit date:2017/09/26
Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  汪波
Adobe PDF(3966Kb)  |  Favorite  |  View/Download:667/0  |  Submit date:2016/09/27
Cmos图像传感器  钳位光电二极管  电离总剂量效应  位移损伤效应  抗辐射加固  
Radiation effects on the low frequency noise in partially depleted silicon on insulator transistors 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 7
Authors:  Liu, Y (Liu Yuan);  Chen, HB (Chen Hai-Bo);  He, YJ (He Yu-Juan);  Wang, X (Wang Xin);  Yue, L (Yue Long);  En, YF (En Yun-Fei);  Liu, MH (Liu Mo-Han)
Adobe PDF(507Kb)  |  Favorite  |  View/Download:30/0  |  Submit date:2018/01/26
SilicOn On Insulator  Partially Depleted  Ionizing Radiation  Low Frequency Noise  
高速深亚微米CMOS模数/数模转换器辐射效应、损伤机理及评估方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  吴雪
Adobe PDF(4353Kb)  |  Favorite  |  View/Download:263/1  |  Submit date:2014/08/05
深亚微米  高速模数/数模转换器  辐照偏置条件  总剂量效应  单粒子效应  加速评估方法  
星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  崔江维
Adobe PDF(1798Kb)  |  Favorite  |  View/Download:115/0  |  Submit date:2016/05/10
超深亚微米器件  总剂量辐射  热载流子效应  负偏置温度不稳定性  相互作用  
典型双极模拟集成电路电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  王义元
Adobe PDF(2132Kb)  |  Favorite  |  View/Download:101/0  |  Submit date:2016/05/24
电离辐射  偏置条件  低剂量率损伤增强效应  模拟电路  数模/模数转换器  
SRAM型FPGA器件总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  高博
Adobe PDF(6679Kb)  |  Favorite  |  View/Download:87/0  |  Submit date:2016/05/24
Sram型fpga器件  总剂量效应  辐射损伤  评估技术  试验方法  
静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2010
Authors:  李茂顺
Adobe PDF(1386Kb)  |  Favorite  |  View/Download:88/0  |  Submit date:2016/05/26
Sram  总剂量辐射效应  敏感参数  偏置条件  剂量率