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8T-全局曝光CMOS图像传感器单粒子翻转及损伤机理 期刊论文
光学学报, 2019, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 41-49
Authors:  汪波;  王立恒;  刘伟鑫;  孔泽斌;  李豫东;  李珍;  王昆黍;  祝伟明;  宣明
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探测器  互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器  重离子辐照  单粒子翻转  损伤机理  
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
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Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  曾骏哲
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电荷耦合器件  位移损伤  位移缺陷  低温测试  仿真模拟  
基于国产双多晶自对准工艺的双极晶体管辐射效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  贾金成
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双多晶自动准  双极晶体管  60co-γ辐射  基极  发射极尺寸  辐射损伤  Eldrs  
3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  汪波
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Cmos图像传感器  钳位光电二极管  电离总剂量效应  位移损伤效应  抗辐射加固  
混合工艺DAC及ADC的总剂量效应研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  王信
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CCD空间累积辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  文林
Adobe PDF(3260Kb)  |  Favorite  |  View/Download:284/0  |  Submit date:2015/06/15
电荷耦合器件  电离总剂量效应  位移效应  损伤机理  敏感参数  基本单元  
静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  郑齐文
Adobe PDF(7082Kb)  |  Favorite  |  View/Download:191/0  |  Submit date:2015/06/15
大规模集成电路  总剂量辐射  静态随机存储器  损伤机制  试验方法  
典型运放、比较器的电离与位移辐射损伤效应 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  姜柯
Adobe PDF(2075Kb)  |  Favorite  |  View/Download:272/0  |  Submit date:2015/06/15
60coγ辐照源  质子辐射  电子辐射  中子辐射  双极器件  辐射效应  
SiGe HBT单粒子效应敏感区域分布与加固设计研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  李培
Adobe PDF(2106Kb)  |  Favorite  |  View/Download:301/0  |  Submit date:2015/06/15
不同结构sige Hbt  单粒子效应  三维数值模拟仿真  激光微束试验  伪集电极加固