XJIPC OpenIR

Browse/Search Results:  1-10 of 108 Help

Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
国产双极工艺线性电路低剂量率辐照效应评估方法 期刊论文
航天器环境工程, 2019, 卷号: 36, 期号: 2, 页码: 146-150
Authors:  李鹏伟;  吕贺;  张洪伟;  孙明;  刘凡;  孙静
Adobe PDF(861Kb)  |  Favorite  |  View/Download:16/0  |  Submit date:2019/05/09
线性电路  低剂量率辐照  辐射损伤增强因子  抗辐射能力  
γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制 期刊论文
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 244-250
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏
Adobe PDF(1365Kb)  |  Favorite  |  View/Download:61/0  |  Submit date:2018/03/13
电荷耦合器件  电离效应  位移损伤  光谱响应  
国产pnp双极晶体管在宽总剂量范围辐照下的ELDRS 期刊论文
半导体技术, 2018, 卷号: 43, 期号: 5, 页码: 369-374
Authors:  魏昕宇;  陆妩;  李小龙;  王信;  孙静;  于新;  姚帅;  刘默寒;  郭旗
Adobe PDF(2030Kb)  |  Favorite  |  View/Download:165/0  |  Submit date:2018/06/13
国产pnp型双极晶体管  宽总剂量范围  低剂量率损伤增强效应(Eldrs)  辐射损伤  剂量率  
总剂量辐射对65 nm NMOSFET热载流子敏感参数的影响 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 126-130
Authors:  苏丹丹;  周航;  郑齐文;  崔江维;  孙静;  马腾;  魏莹;  余学峰;  郭旗
Adobe PDF(1083Kb)  |  Favorite  |  View/Download:39/0  |  Submit date:2018/03/19
65 Nm Nmosfet  总剂量效应  热载流子效应  
不同偏置状态下4T-CMOS图像传感器的总剂量辐射效应 期刊论文
红外与激光工程, 2018, 卷号: 47, 期号: 10, 页码: 316-320
Authors:  马林东;  李豫东;  郭旗;  文林;  周东;  冯婕
Adobe PDF(377Kb)  |  Favorite  |  View/Download:55/0  |  Submit date:2018/11/19
Cmos有源像素传感器  总剂量效应  暗电流  
双极电压比较器高低剂量率辐照损伤特性 期刊论文
核技术, 2018, 卷号: 41, 期号: 9, 页码: 13-19
Authors:  贾金成;  李小龙;  陆妩;  孙静;  王信;  刘默寒;  魏昕宇;  姚帅;  郭旗
Adobe PDF(828Kb)  |  Favorite  |  View/Download:19/0  |  Submit date:2018/10/18
双极电压比较器  60Co-γ辐照  剂量率影响  
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
Adobe PDF(3489Kb)  |  Favorite  |  View/Download:55/0  |  Submit date:2017/09/26
Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  曾骏哲
Adobe PDF(3212Kb)  |  Favorite  |  View/Download:57/0  |  Submit date:2017/09/26
电荷耦合器件  位移损伤  位移缺陷  低温测试  仿真模拟  
InGaAs低维量子结构光电材料辐射效应研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  玛丽娅·黑尼
Adobe PDF(3593Kb)  |  Favorite  |  View/Download:124/0  |  Submit date:2016/12/19
Ingaas量子阱  量子点  辐射效应  位移损伤  
3T和4T-CMOS图像传感器空间辐射效应及损伤机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
Authors:  汪波
Adobe PDF(3966Kb)  |  Favorite  |  View/Download:607/0  |  Submit date:2016/09/27
Cmos图像传感器  钳位光电二极管  电离总剂量效应  位移损伤效应  抗辐射加固