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3MeV质子辐照下背照式CMOS图像传感器固定模式噪声的退化行为 期刊论文
现代应用物理, 2019, 卷号: 10, 期号: 1, 页码: 50-53
Authors:  张翔;  李豫东;  郭旗;  文林;  周东;  冯婕;  马林东;  蔡毓龙;  王志铭
Adobe PDF(227Kb)  |  Favorite  |  View/Download:31/0  |  Submit date:2019/05/09
背照式CMOS图像传感器  3MeV质子  固定模式噪声  位移效应  电离总剂量效应  
空间用四结键合太阳能电池子电池辐射效应研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  赵晓凡
Adobe PDF(3195Kb)  |  Favorite  |  View/Download:108/0  |  Submit date:2018/07/06
四结键合太阳能电池  位移损伤  少子扩散长度  辐射效应  
空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  马腾
Adobe PDF(2664Kb)  |  Favorite  |  View/Download:37/0  |  Submit date:2018/07/06
金属氧化物半导体  辐射效应  可靠性  辐射诱导泄漏电流  介质经时击穿  
γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制 期刊论文
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 244-250
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏
Adobe PDF(1365Kb)  |  Favorite  |  View/Download:66/0  |  Submit date:2018/03/13
电荷耦合器件  电离效应  位移损伤  光谱响应  
质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 115-119+125
Authors:  刘元;  文林;  李豫东;  何承发;  郭旗;  孙静;  冯婕;  曾俊哲;  马林东;  张翔;  王田珲
Adobe PDF(756Kb)  |  Favorite  |  View/Download:45/0  |  Submit date:2018/03/19
电荷耦合器件  质子辐射效应  热像素  
辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
Adobe PDF(3489Kb)  |  Favorite  |  View/Download:60/0  |  Submit date:2017/09/26
Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  曾骏哲
Adobe PDF(3212Kb)  |  Favorite  |  View/Download:58/0  |  Submit date:2017/09/26
电荷耦合器件  位移损伤  位移缺陷  低温测试  仿真模拟  
γ射线和电子束对SOI MOSFET栅介质可靠性影响研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  苏丹丹
Adobe PDF(6461Kb)  |  Favorite  |  View/Download:57/0  |  Submit date:2017/09/26
Mosfet  Tddb  辐射效应  可靠性  
行间转移电荷耦合器件位移损伤效应测试表征技术研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  刘元
Adobe PDF(1699Kb)  |  Favorite  |  View/Download:37/0  |  Submit date:2017/09/26
电荷耦合器件  辐射损伤  位移损伤效应  温度效应  热像素  
In0.22Ga0.78As/GaAs量子阱光致发光谱电子辐照效应研究 期刊论文
光学学报, 2017, 卷号: 37, 期号: 2, 页码: 0216002-1-0216002-8
Authors:  玛丽娅;  郭旗;  艾尔肯;  李豫东;  李占行;  文林;  周东
Adobe PDF(1499Kb)  |  Favorite  |  View/Download:144/2  |  Submit date:2016/12/02
辐射  损伤  光致发光谱  量子阱