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辐射环境下的微纳米器件可靠性变化机理与试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  周航
Adobe PDF(3489Kb)  |  Favorite  |  View/Download:55/0  |  Submit date:2017/09/26
Cmos  热载流子  辐射效应  重离子辐照  Tddb  
静态随机存储器总剂量辐射损伤机制及试验方法研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2015
Authors:  郑齐文
Adobe PDF(7082Kb)  |  Favorite  |  View/Download:188/0  |  Submit date:2015/06/15
大规模集成电路  总剂量辐射  静态随机存储器  损伤机制  试验方法  
新型非易失存储器电离辐射效应及机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  张兴尧
Adobe PDF(2943Kb)  |  Favorite  |  View/Download:325/2  |  Submit date:2014/08/05
新型非易失存储器  传统非易失存储器  总剂量效应  辐射敏感参数  
电压比较器电离辐射效应及加速评估方法的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2014
Authors:  马武英
Adobe PDF(5702Kb)  |  Favorite  |  View/Download:262/1  |  Submit date:2014/09/02
电离辐射  电压比较器  低剂量率辐射损伤增强效应  加速评估方法  
栅控横向PNP双极晶体管基极电流峰值展宽效应及电荷分离研究 期刊论文
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 11, 页码: 226-231
Authors:  马武英;  王志宽;  陆妩;  席善斌;  郭旗;  何承发;  王信;  刘默寒;  姜柯
Adobe PDF(574Kb)  |  Favorite  |  View/Download:173/1  |  Submit date:2014/11/11
栅控双极pnp晶体管  60 Coγ辐照  辐射损伤  Gclpnp Bjts  60coγ Irradiation  Ionizing Damage  
基于新型双极测试结构的低剂量率辐照感生缺陷研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2013
Authors:  席善斌
Adobe PDF(5467Kb)  |  Favorite  |  View/Download:199/2  |  Submit date:2013/05/31
低剂量率辐射损伤增强效应  栅控晶体管  电荷分离  损伤机理  竞争模型  
星用超深亚微米CMOS器件辐射效应及其可靠性研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
Authors:  崔江维
Adobe PDF(1798Kb)  |  Favorite  |  View/Download:112/0  |  Submit date:2016/05/10
超深亚微米器件  总剂量辐射  热载流子效应  负偏置温度不稳定性  相互作用  
SRAM型FPGA器件总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  高博
Adobe PDF(6679Kb)  |  Favorite  |  View/Download:87/0  |  Submit date:2016/05/24
Sram型fpga器件  总剂量效应  辐射损伤  评估技术  试验方法  
SOI CMOS静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011
Authors:  李明
Adobe PDF(1257Kb)  |  Favorite  |  View/Download:112/0  |  Submit date:2016/05/24
Soi  Sram  总剂量辐射效应  评估技术  实验方法  
深亚微米PMOSFET的NBTI效应研究 会议论文
, 三亚, 2011
Authors:  崔江维;  余学峰;  任迪远;  卢健
Adobe PDF(165Kb)  |  Favorite  |  View/Download:152/1  |  Submit date:2013/04/09
金属氧化物半导体场效应管  深亚微米  负偏压温度不稳定性效应  阈值电压  参数优化