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国产双极工艺线性电路低剂量率辐照效应评估方法 期刊论文
航天器环境工程, 2019, 卷号: 36, 期号: 2, 页码: 146-150
Authors:  李鹏伟;  吕贺;  张洪伟;  孙明;  刘凡;  孙静
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线性电路  低剂量率辐照  辐射损伤增强因子  抗辐射能力  
变温辐照对双极电压比较器LM2903在不同偏置状态下的单粒子瞬态影响 期刊论文
原子能科学技术, 2019, 卷号: 53, 期号: 6, 页码: 1122-1126
Authors:  姚帅;  陆妩;  于新;  李小龙;  王信;  刘默寒;  孙静;  常耀东;  席善学;  何承发;  郭旗
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变温辐照方法  双极电压比较器  电离总剂量  单粒子瞬态  偏置状态  协同效应  
空间高能粒子对纳米器件栅介质可靠性影响的研究 学位论文
硕士, 北京: 中国科学院大学, 2018
Authors:  马腾
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金属氧化物半导体  辐射效应  可靠性  辐射诱导泄漏电流  介质经时击穿  
γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制 期刊论文
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 244-250
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏
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电荷耦合器件  电离效应  位移损伤  光谱响应  
国产pnp双极晶体管在宽总剂量范围辐照下的ELDRS 期刊论文
半导体技术, 2018, 卷号: 43, 期号: 5, 页码: 369-374
Authors:  魏昕宇;  陆妩;  李小龙;  王信;  孙静;  于新;  姚帅;  刘默寒;  郭旗
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国产pnp型双极晶体管  宽总剂量范围  低剂量率损伤增强效应(Eldrs)  辐射损伤  剂量率  
质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 115-119+125
Authors:  刘元;  文林;  李豫东;  何承发;  郭旗;  孙静;  冯婕;  曾俊哲;  马林东;  张翔;  王田珲
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电荷耦合器件  质子辐射效应  热像素  
双多晶自对准NPN管的总剂量辐射效应研究 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 120-125
Authors:  贾金成;  陆妩;  吴雪;  张培健;  孙静;  王信;  李小龙;  刘默寒;  郭旗;  刘元
Adobe PDF(1160Kb)  |  Favorite  |  View/Download:49/0  |  Submit date:2018/03/19
双多晶自动准  Npn管  60co-γ辐射  辐射损伤  
不同偏置状态下4T-CMOS图像传感器的总剂量辐射效应 期刊论文
红外与激光工程, 2018, 卷号: 47, 期号: 10, 页码: 316-320
Authors:  马林东;  李豫东;  郭旗;  文林;  周东;  冯婕
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Cmos有源像素传感器  总剂量效应  暗电流  
双极电压比较器高低剂量率辐照损伤特性 期刊论文
核技术, 2018, 卷号: 41, 期号: 9, 页码: 13-19
Authors:  贾金成;  李小龙;  陆妩;  孙静;  王信;  刘默寒;  魏昕宇;  姚帅;  郭旗
Adobe PDF(828Kb)  |  Favorite  |  View/Download:21/0  |  Submit date:2018/10/18
双极电压比较器  60Co-γ辐照  剂量率影响  
科学级帧转移电荷耦合成像器件位移损伤效应与机理研究 学位论文
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
Authors:  曾骏哲
Adobe PDF(3212Kb)  |  Favorite  |  View/Download:58/0  |  Submit date:2017/09/26
电荷耦合器件  位移损伤  位移缺陷  低温测试  仿真模拟