XJIPC OpenIR  > 固体辐射物理研究室
一种低温光致发光快速高效测试方法
艾尔肯·阿不都瓦衣提; 赵晓凡; 玛丽娅·黑尼; 莫敏·塞来; 慎小宝; 许焱; 雷琪琪; 李豫东; 郭旗
2019-01-18
Rights Holder中国科学院新疆理化技术研究所
Subtype发明专利
Abstract

本发明属于光电器件测试技术领域,涉及一种低温光致发光快速高效测试方法,该方法中涉及装置是由样品室、低温微电机、待测样品、样品架、凸透镜、滤光片、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成,通过连接的低温微电机电源开关和转动速度控制电路,使低温样品室内的样品架旋转,让入射激光打在任何一个待测样品上,这样,不但可以保证每一个待测样品发出来的光致发光光路相同,而且只通过一次降温可以测试多个样品,测试精度和测试速度大大提高。本发明具有结构简单、效率高、节省测试时间等特点。

Application Date2018-10-24
Application NumberCN201811240971.8
Open (Notice) NumberCN109238969A
Document Type专利
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/6377
Collection固体辐射物理研究室
Recommended Citation
GB/T 7714
艾尔肯·阿不都瓦衣提,赵晓凡,玛丽娅·黑尼,等. 一种低温光致发光快速高效测试方法. CN109238969A[P]. 2019-01-18.
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