XJIPC OpenIR  > 固体辐射物理研究室
一种光致发光测试中避免激发激光谐波影响的方法
玛丽娅·黑尼; 莫敏·塞来; 艾尔肯·阿不都瓦衣提; 赵晓凡; 慎小宝; 许焱; 雷琪琪; 李豫东; 郭旗
2019-01-11
Rights Holder中国科学院新疆理化技术研究所
Subtype发明专利
Abstract

本发明涉及一种光致发光测试中避免激发激光谐波影响的方法,该方法中涉及的装置由待测样品、凸透镜、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成,通过改变入射激光与待测样品表面的夹角为10°‑30°,而达到避免激发激光二次谐波影响目的。本发明所述方法具有操作简单、效率高、无需任何其他滤光片等特点。解决了目前存在的问题。

Application Date2018-10-24
Application NumberCN201811242778.8
Open (Notice) NumberCN109187445A
Document Type专利
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/6375
Collection固体辐射物理研究室
Recommended Citation
GB/T 7714
玛丽娅·黑尼,莫敏·塞来,艾尔肯·阿不都瓦衣提,等. 一种光致发光测试中避免激发激光谐波影响的方法. CN109187445A[P]. 2019-01-11.
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