XJIPC OpenIR  > 固体辐射物理研究室
一种提高低温光致发光测试精度的实验方法
艾尔肯·阿不都瓦衣提; 雷琪琪; 莫敏·塞来; 马丽娅·黑尼; 赵晓凡; 慎小宝; 许焱; 李豫东; 郭旗
2019-01-11
Rights Holder中国科学院新疆理化技术研究所
Subtype发明专利
Abstract

本发明属于光电器件测试技术领域,涉及一种提高低温光致发光测试精度的实验方法;该方法中涉及装置是由真空罩、防热辐射屏、待测样品、样品架、凸透镜、滤光片、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成,利用防热辐射屏出射角大于90度的出射窗口收集待测样品发出的光致发光,从而达到提高光致发光测试精度的目的。本发明具有操作简单、效率高、提高测试精度、节省测试时间等特点。

Application Date2018-10-24
Application NumberCN201811241280.X
Open (Notice) NumberCN109187349A
Document Type专利
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/6374
Collection固体辐射物理研究室
Recommended Citation
GB/T 7714
艾尔肯·阿不都瓦衣提,雷琪琪,莫敏·塞来,等. 一种提高低温光致发光测试精度的实验方法. CN109187349A[P]. 2019-01-11.
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