典型模拟电路低剂量率辐照损伤增强效应的研究与评估
李小龙; 陆妩; 王信; 郭旗; 何承发; 孙静; 于新; 刘默寒; 贾金成; 姚帅; 魏昕宇
2018
Source Publication物理学报
ISSN1000-3290
Volume67Issue:9Pages:202-209
Abstract

采用变剂量率和变温两种辐照方法,对4款典型模拟电路的低剂量率辐照损伤特性及变化规律进行了研究与评估,分析了两种辐照方法下其辐照敏感参数的变化,比较了不同辐照方式下器件的退化程度,讨论了这两种实验室加速评估低剂量率辐照损伤方法的机理.结果显示,变剂量率辐照可以较快地预测实际低剂量率下的辐照损伤趋势,且在较低的总剂量下能够给出不太保守的估计,但其预测的总剂量受到器件退化速度的影响;变温辐照加速评估方法能够保守地估计其低剂量率下的辐照损伤,其评估范围不仅可达1000 Gy(Si),且可将评估时间缩短为12 h左右.研究结果表明,双极电路的低剂量率辐照损伤增强效应与感生的界面态密度和氢化的氧空位缺陷有关,辐照时剂量率和温度的改变会促进界面态的生长,抑制界面态的钝化作用,从而激发器件的辐照损伤潜能.

Keyword双极模拟电路 低剂量率辐照损伤增强效应 加速评估方法
DOI10.7498/aps.67.20180027
Indexed BySCI ; CSCD
CSCD IDCSCD:6249318
Citation statistics
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/5541
Collection中国科学院特殊环境功能材料与器件重点试验室
材料物理与化学研究室
Affiliation1.中国科学院新疆理化技术研究所中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室
2.新疆电子信息材料与器件重点实验室
3.中国科学院大学
Recommended Citation
GB/T 7714
李小龙,陆妩,王信,等. 典型模拟电路低剂量率辐照损伤增强效应的研究与评估[J]. 物理学报,2018,67(9):202-209.
APA 李小龙.,陆妩.,王信.,郭旗.,何承发.,...&魏昕宇.(2018).典型模拟电路低剂量率辐照损伤增强效应的研究与评估.物理学报,67(9),202-209.
MLA 李小龙,et al."典型模拟电路低剂量率辐照损伤增强效应的研究与评估".物理学报 67.9(2018):202-209.
Files in This Item:
File Name/Size DocType Version Access License
典型模拟电路低剂量率辐照损伤增强效应的研(618KB)期刊论文作者接受稿开放获取CC BY-NC-SAView Application Full Text
Related Services
Recommend this item
Bookmark
Usage statistics
Export to Endnote
Google Scholar
Similar articles in Google Scholar
[李小龙]'s Articles
[陆妩]'s Articles
[王信]'s Articles
Baidu academic
Similar articles in Baidu academic
[李小龙]'s Articles
[陆妩]'s Articles
[王信]'s Articles
Bing Scholar
Similar articles in Bing Scholar
[李小龙]'s Articles
[陆妩]'s Articles
[王信]'s Articles
Terms of Use
No data!
Social Bookmark/Share
File name: 典型模拟电路低剂量率辐照损伤增强效应的研究与评估.pdf
Format: Adobe PDF
All comments (0)
No comment.
 

Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.