γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制
文林; 李豫东; 郭旗; 汪朝敏
2018
Source Publication发光学报
ISSN1000-7032
Volume39Issue:2Pages:244-250
Abstract

光谱响应是表征CCD性能的重要参数。为了研究辐射环境对CCD光谱响应产生影响的规律及物理机制,开展了不同粒子辐照实验,对CCD光谱响应曲线的退化形式及典型波长下CCD光响应的退化情况进行了分析。辐射效应对CCD光谱响应的影响可以分为电离总剂量效应和位移效应导致的退化,本文从这两种辐射效应出发,采用60Co-γ射线及质子两种辐照条件,研究了CCD光谱响应的退化规律。针对460 nm(蓝光)和700 nm(红光)等典型CCD光响应波长,从辐射效应导致的损伤缺陷方面分析了CCD光谱响应退化的物理机制。研究发现,在60Co-γ射线辐照时CCD光谱响应曲线变化是由于暗信号增加导致的,而质子辐照导致CCD对700 nm波长的光响应退化明显大于460 nm波长的光响应,且10 Me V质子导致的损伤比3 Me V质子更明显,表明位移损伤缺陷易导致CCD光谱响应退化。结果表明,电离总剂量效应主要导致CCD光谱响应整体变化,而位移效应则导致不同波长光的响应差异增大。

Keyword电荷耦合器件 电离效应 位移损伤 光谱响应
Indexed ByEI ; CSCD
CSCD IDCSCD:6176486
Citation statistics
Cited Times:1[CSCD]   [CSCD Record]
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/5237
Collection中国科学院特殊环境功能材料与器件重点试验室
材料物理与化学研究室
Affiliation1.中国科学院新疆理化技术研究所
2.中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室
3.新疆电子信息材料与器件重点实验室
4.重庆光电技术研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
文林,李豫东,郭旗,等. γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制[J]. 发光学报,2018,39(2):244-250.
APA 文林,李豫东,郭旗,&汪朝敏.(2018).γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制.发光学报,39(2),244-250.
MLA 文林,et al."γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制".发光学报 39.2(2018):244-250.
Files in This Item:
File Name/Size DocType Version Access License
γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的(1365KB)期刊论文作者接受稿开放获取CC BY-NC-SAView Application Full Text
Related Services
Recommend this item
Bookmark
Usage statistics
Export to Endnote
Google Scholar
Similar articles in Google Scholar
[文林]'s Articles
[李豫东]'s Articles
[郭旗]'s Articles
Baidu academic
Similar articles in Baidu academic
[文林]'s Articles
[李豫东]'s Articles
[郭旗]'s Articles
Bing Scholar
Similar articles in Bing Scholar
[文林]'s Articles
[李豫东]'s Articles
[郭旗]'s Articles
Terms of Use
No data!
Social Bookmark/Share
File name: γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制.pdf
Format: Adobe PDF
All comments (0)
No comment.
 

Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.