γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制
文林; 李豫东; 郭旗; 汪朝敏
2018
发表期刊发光学报
ISSN1000-7032
卷号39期号:2页码:244-250
摘要

光谱响应是表征CCD性能的重要参数。为了研究辐射环境对CCD光谱响应产生影响的规律及物理机制,开展了不同粒子辐照实验,对CCD光谱响应曲线的退化形式及典型波长下CCD光响应的退化情况进行了分析。辐射效应对CCD光谱响应的影响可以分为电离总剂量效应和位移效应导致的退化,本文从这两种辐射效应出发,采用60Co-γ射线及质子两种辐照条件,研究了CCD光谱响应的退化规律。针对460 nm(蓝光)和700 nm(红光)等典型CCD光响应波长,从辐射效应导致的损伤缺陷方面分析了CCD光谱响应退化的物理机制。研究发现,在60Co-γ射线辐照时CCD光谱响应曲线变化是由于暗信号增加导致的,而质子辐照导致CCD对700 nm波长的光响应退化明显大于460 nm波长的光响应,且10 Me V质子导致的损伤比3 Me V质子更明显,表明位移损伤缺陷易导致CCD光谱响应退化。结果表明,电离总剂量效应主要导致CCD光谱响应整体变化,而位移效应则导致不同波长光的响应差异增大。

关键词电荷耦合器件 电离效应 位移损伤 光谱响应
收录类别EI ; CSCD
CSCD记录号CSCD:6176486
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文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/5237
专题中国科学院特殊环境功能材料与器件重点试验室
材料物理与化学研究室
作者单位1.中国科学院新疆理化技术研究所
2.中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室
3.新疆电子信息材料与器件重点实验室
4.重庆光电技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
文林,李豫东,郭旗,等. γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制[J]. 发光学报,2018,39(2):244-250.
APA 文林,李豫东,郭旗,&汪朝敏.(2018).γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制.发光学报,39(2),244-250.
MLA 文林,et al."γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制".发光学报 39.2(2018):244-250.
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