深亚微米金属氧化物场效应晶体管及寄生双极晶体管的总剂量效应研究
王信; 陆妩; 吴雪; 马武英; 崔江维; 刘默寒; 姜柯
2014
发表期刊物理学报
ISSN1000-3290
卷号63期号:22页码:262-269
摘要

为从工艺角度深入研究航空航天用互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺混合信号集成电路总剂量辐射损伤机理,选取国产CMOS工艺制作的NMOS晶体管及寄生双极晶体管进行了60Coγ射线源下的总剂量试验研究.发现:1)CMOS工艺中固有的寄生效应导致NMOS晶体管截止区漏电流对总剂量敏感,随总剂量累积而增大;2)寄生双极晶体管总剂量损伤与常规双极晶体管不同,表现为对总剂量不敏感,分析认为两者辐射损伤的差异来源于制作工艺的不同;3)寄生双极晶体管与NMOS晶体管的总剂量损伤没有耦合效应;4)基于上述研究成果,初步分析CMOS工艺混合信号集成电路中数字模块及模拟模块辐射损伤机制,认为MOS晶体管截止漏电流增大是导致数字模块功耗增大的主因,而Bandgap电压基准源模块对总剂量不敏感源于寄生双极晶体管抗总剂量辐射的能力.

关键词总剂量效应 N沟道金属氧化物场效应晶体管 寄生双极晶体管 Bandgap基准电压源
收录类别SCI ; CSCD
CSCD记录号CSCD:5282967
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文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/4989
专题中国科学院特殊环境功能材料与器件重点试验室
作者单位1.中国科学院新疆理化技术研究所
2.中国科学院特殊环境功能材料与器件重点实验室
3.新疆电子信息材料与器件重点实验室
4.中国科学院大学
推荐引用方式
GB/T 7714
王信,陆妩,吴雪,等. 深亚微米金属氧化物场效应晶体管及寄生双极晶体管的总剂量效应研究[J]. 物理学报,2014,63(22):262-269.
APA 王信.,陆妩.,吴雪.,马武英.,崔江维.,...&姜柯.(2014).深亚微米金属氧化物场效应晶体管及寄生双极晶体管的总剂量效应研究.物理学报,63(22),262-269.
MLA 王信,et al."深亚微米金属氧化物场效应晶体管及寄生双极晶体管的总剂量效应研究".物理学报 63.22(2014):262-269.
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