XJIPC OpenIR  > 材料物理与化学研究室
偏置条件对NPN型锗硅异质结双极晶体管电离辐射效应的影响
刘默寒; 陆妩; 马武英; 王信; 郭旗; 何承发; 姜柯
2015
Source Publication核技术
ISSN0253-3219
Volume38Issue:6Pages:38-44
Abstract

本文研究了不同偏置条件下国产商用NPN型锗硅异质结双极晶体管(Silicon germanium hetero-junction bipolar transistors,SiGe HBTs)在60Coγ辐射环境中电离辐照响应特性和变化规律。实验结果表明,在0.8 Gy(Si)·s-1剂量率辐照下,总累积剂量达到1.1×104 Gy(Si)时,发射结反向偏置条件下60Coγ射线辐照对SiGe HBTs造成的损伤最大,零偏次之,正偏损伤最小;经过一定时间的退火后,零偏恢复程度最小,而正偏和反偏时的恢复趋势以及程度相同。分析了不同偏置状态下其电离辐照敏感参数随累积总剂量以及退火时间的变化关系,讨论了引起电参数失效的潜在机理。

Keyword锗硅异质结双极晶体管 总剂量效应 偏置条件 退火
DOI10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.060202
Indexed ByCSCD
CSCD IDCSCD:5442669
Citation statistics
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/4310
Collection材料物理与化学研究室
Affiliation新疆大学物理科学与技术学院;中国科学院新疆理化技术研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
刘默寒,陆妩,马武英,等. 偏置条件对NPN型锗硅异质结双极晶体管电离辐射效应的影响[J]. 核技术,2015,38(6):38-44.
APA 刘默寒.,陆妩.,马武英.,王信.,郭旗.,...&姜柯.(2015).偏置条件对NPN型锗硅异质结双极晶体管电离辐射效应的影响.核技术,38(6),38-44.
MLA 刘默寒,et al."偏置条件对NPN型锗硅异质结双极晶体管电离辐射效应的影响".核技术 38.6(2015):38-44.
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