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XJIPC OpenIR  > 中国科学院新疆理化技术研究所(2002年以前数据)  > 专利
专利名称: 星用辐射效应探测器
发明人: 范隆 ; 任迪远 ; 严荣良
申请受理号: 99102022.7
专利授权号: ZL99102022.7
申请日期: 1999-02-02
授权日期: 2003-10-22
专利权人: 中国科学院新疆理化技术研究所
专利类别: 发明
授予国别: 中国
公开日期: 2013-11-27
状态: 专利权的终止
摘要: 一种与星上数据采集系统配套使用,检测粒子辐射对CMOS集成电路影响的星用CMOS辐射效应探测器,能完成对电离辐射敏感的CC4007电路N沟管阈电压值检测。主要由测量控制电路、恒流源电路、电压输出接口电路和被测CMOS4007组成,采用星上数据采集系统给出的一路测量启动脉冲控制,按时序对两片4007中6个N沟管阈电压依次测量,输出模拟电压信号送至星上数据采集系统的模数转换器ADC0816。该探测器具有功耗低、可靠性高的特点。
内容类型: 专利
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/3172
Appears in Collections:中国科学院新疆理化技术研究所(2002年以前数据)_专利

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