学科主题辐射物理与技术
星用抗高电离总剂量器件和电路系统辐射损伤机理研究
严荣良; 任迪远; 张国强; 陆妩; 高剑侠; 郭旗; 余学峰; 范隆; 赵元富; 胡浴红; 高文钰
获奖类别中国科学院科技进步奖;
获奖等级三等奖
1995
项目归属中国科学院新疆理化技术研究所
产权排名中国科学院新疆理化技术研究所
文献类型成果
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2952
专题中国科学院新疆理化技术研究所(2002年以前数据)
材料物理与化学研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
严荣良,任迪远,张国强,等. 星用抗高电离总剂量器件和电路系统辐射损伤机理研究. 中国科学院科技进步奖;. 1995.
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