XJIPC OpenIR  > 材料物理与化学研究室
氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析
赵青; 常爱民; 简家文; 巴维真; 李志军
2004
会议名称第五届中国功能材料及其应用学术会议
会议日期2004-09
会议地点中国北京·秦皇岛
摘要

研究了8molY<,2>O<,3>掺杂ZrO<,2>(8YSZ)材料微波烧结陶瓷在300~850℃温度范围内的交流复阻抗谱,获得了该材料的温度-离子电导率曲线,并与常规烧结的陶瓷体进行了比较.结果发现8YSZ的微波烧结陶瓷的晶界势垒在550℃被击穿,常规烧结陶瓷的晶界势垒在500℃被击穿.击穿后晶界电阻消失,离子电导率的变化主要由晶粒电导率的变化决定.在击穿温度点以下,陶瓷体的离子电导率随温度的升高呈波浪式上升,即曲线呈上升~下降~上升趋势.

关键词Ysz 微波烧结 复阻抗 电导率
主办者中国仪器仪表学会 中国金属学会 中国稀土学会 中国复合材料学会 中国有色金属学会
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2401
专题材料物理与化学研究室
作者单位中国科学院新疆理化技术研究所;电子科技大学微电子与固体电子学院;新疆大学物理系
推荐引用方式
GB/T 7714
赵青,常爱民,简家文,等. 氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析[C],2004.
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