氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析

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题名:	氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析
作者:	赵青; 常爱民; 简家文; 巴维真; 李志军
会议名称:	第五届中国功能材料及其应用学术会议
会议日期:	2004-09
出版日期:	2004
会议地点:	中国北京·秦皇岛
关键词:	YSZ ; 微波烧结 ; 复阻抗 ; 电导率
主办者:	中国仪器仪表学会中国金属学会中国稀土学会中国复合材料学会中国有色金属学会
摘要:	研究了8molY<,2>O<,3>掺杂ZrO<,2>(8YSZ)材料微波烧结陶瓷在300~850℃温度范围内的交流复阻抗谱,获得了该材料的温度-离子电导率曲线,并与常规烧结的陶瓷体进行了比较.结果发现8YSZ的微波烧结陶瓷的晶界势垒在550℃被击穿,常规烧结陶瓷的晶界势垒在500℃被击穿.击穿后晶界电阻消失,离子电导率的变化主要由晶粒电导率的变化决定.在击穿温度点以下,陶瓷体的离子电导率随温度的升高呈波浪式上升,即曲线呈上升~下降~上升趋势.
内容类型:	会议论文
URI标识:	http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2401
Appears in Collections:	材料物理与化学研究室_会议论文

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氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析.pdf（238KB）	会议论文	--	开放获取	CC BY-NC-SA	View 联系获取全文

作者单位:

中国科学院新疆理化技术研究所;电子科技大学微电子与固体电子学院;新疆大学物理系

Recommended Citation:

赵青,常爱民,简家文,等. 氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析[C]. 见:第五届中国功能材料及其应用学术会议. 中国北京·秦皇岛. 2004-09.

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