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题名: 氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析
作者: 赵青 ; 常爱民 ; 简家文 ; 巴维真 ; 李志军
会议名称: 第五届中国功能材料及其应用学术会议
会议日期: 2004
出版日期: 2004
会议地点: 秦皇岛
主办者: 中国仪器仪表学会 中国金属学会 中国稀土学会 中国复合材料学会 中国有色金属学会
摘要: 研究了8molY<,2>O<,3>掺杂ZrO<,2>(8YSZ)材料微波烧结陶瓷在300~850℃温度范围内的交流复阻抗谱,获得了该材料的温度-离子电导率曲线,并与常规烧结的陶瓷体进行了比较.结果发现8YSZ的微波烧结陶瓷的晶界势垒在550℃被击穿,常规烧结陶瓷的晶界势垒在500℃被击穿.击穿后晶界电阻消失,离子电导率的变化主要由晶粒电导率的变化决定.在击穿温度点以下,陶瓷体的离子电导率随温度的升高呈波浪式上升,即曲线呈上升~下降~上升趋势.
语种: 中文
内容类型: 会议论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2401
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氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析.pdf(238KB)----开放获取View 联系获取全文

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赵青;常爱民;简家文;巴维真;李志军.氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析.见:.,,2004,
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