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题名: 国产双极数模转换器不同剂量率的辐射效应
作者: 王义元 ; 陆妩 ; 任迪远 ; 郑玉展 ; 高博 ; 李鹏伟 ; 于跃
会议名称: 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会
会议日期: 2008
出版日期: 2008
会议地点: 乌鲁木齐
主办者: 中国核学会中国电子学会
摘要: 通过对国产双极数模转换器在60COγ射线的高低剂量率的辐照实验和室温退火实验的对比分析,发现国产数模混合电路在不同剂量率辐照下的电离辐照响应有很大差异。这种混合电路不但表现出明显的低剂量率损伤增强效应,而且表现出时间相关效应。结合辐射响应特点和空间电荷模型,对其辐射损伤机理进行初步探讨。
语种: 中文
内容类型: 会议论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2385
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国产双极数模转换器不同剂量率的辐射效应.pdf(366KB)----开放获取View 联系获取全文

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王义元;陆妩;任迪远;郑玉展;高博;李鹏伟;于跃.国产双极数模转换器不同剂量率的辐射效应.见:.,,2008,
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