XJIPC OpenIR  > 材料物理与化学研究室
国产双极数模转换器不同剂量率的辐射效应
王义元; 陆妩; 任迪远; 郑玉展; 高博; 李鹏伟; 于跃
2008
Conference Name第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会
Conference Date2008-07-15
Conference Place乌鲁木齐
Abstract

通过对国产双极数模转换器在60COγ射线的高低剂量率的辐照实验和室温退火实验的对比分析,发现国产数模混合电路在不同剂量率辐照下的电离辐照响应有很大差异。这种混合电路不但表现出明显的低剂量率损伤增强效应,而且表现出时间相关效应。结合辐射响应特点和空间电荷模型,对其辐射损伤机理进行初步探讨。

Keyword数模转换器 辐射效应 室温退火 辐照响应 电离辐照 电荷模型 空间电荷 辐射损伤
Funding Organization中国核学会中国电子学会
Document Type会议论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2385
Collection材料物理与化学研究室
Affiliation中国科学院新疆理化技术研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
王义元,陆妩,任迪远,等. 国产双极数模转换器不同剂量率的辐射效应[C],2008.
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