XJIPC OpenIR  > 材料物理与化学研究室
10位双极数模转换器的电离辐射效应
王义元; 陆妩; 任迪远; 郑玉展; 高博; 李鹏伟; 于跃
2009
Conference Name第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会
Conference Date2009
Conference Place沈阳
Abstract

本文研究了国产互补双极工艺生产的数模转换器(D/A转换器)在不同偏置条件和不同剂量率条件下的电离辐射效应及退火特性。研究结果表明:D/A转换器对偏置条件和辐照剂量率都很敏感。大剂量率辐照时,电路功能正常,各功能参数变化较小;而在低剂量率辐照情况下,各参数变化显著,超出器件允许的范围,器件功能失效.因此,D/A转换器表现出明显的低剂量率辐射损伤增强效应(ELDRS)。零偏时,D/A转换器功能参数损伤变化更加严重。最后,结合边缘电场效应和空间电荷模型对这种不同偏置和剂量率条件下的损伤机理进行了初步的探讨。

Keyword双极数模转换器 偏置条件 电离辐射效应 退火特性 辐照剂量 空间电荷模型 边缘电场效应
Funding Organization中国电子学会 中国核学会
Document Type会议论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2360
Collection材料物理与化学研究室
Affiliation中科院新疆理化技术研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
王义元,陆妩,任迪远,等. 10位双极数模转换器的电离辐射效应[C],2009.
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