XJIPC OpenIR  > 材料物理与化学研究室
抗辐射加固封装国产存储器电子辐照试验研究
卫宁; 王剑峰; 杜婕; 周聪莉; 郭旗; 文林
2009
会议名称第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会
会议日期2009
会议地点沈阳
摘要

采用科学的屏蔽方法对国产CMOS存储器芯片进行了抗辐射封装,研制了抗辐射封装加固存储器LS28C256R,研制了试验电路板,在存储器器件加电工作条件下进行了电子加速器辐照试验的动态测试。试验结果表明,抗辐射封装加固存储器LS28C256R比普通封装存储器28C256抗电子源辐照的能力提高1~2个数量级,得到了预期的数据和结果。相信我们的工作为以后COTS(Commercial Off-The-shelf)器件在空间的开拓使用也提供了很好的途径.

关键词抗辐射封装 电离辐射 电子辐照 国产存储器
主办者中国电子学会 中国核学会
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2358
专题材料物理与化学研究室
作者单位航天时代电子公司第771研究所; 中国科学院新疆理化技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
卫宁,王剑峰,杜婕,等. 抗辐射加固封装国产存储器电子辐照试验研究[C],2009.
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文件名: 抗辐射加固封装国产存储器电子辐照试验研究.pdf
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