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题名: 线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应
作者: 王义元 ; 陆妩 ; 任迪远 ; 高博 ; 席善斌 ; 许发月
会议名称: 第六届(2010年)北京核学会核技术应用学术交流会
会议日期: 2010
出版日期: 2010
会议地点: 苏州
收录类别: wanfang
主办者: 中国核学会 北京核学会
摘要: 为对工作在空间电离环境中稳压器的电离总剂量及剂量率效应进行研究,选择一种常用的低压差线性稳压器进行了不同偏置的高低剂量率的电离辐照和退火实验。本文结合电路特征和电离辐射效应,对线性稳压器产生蜕变的原因进行分析。结果显示,器件输出电压、线性调整率、负载调整率等关键参数在电离辐射环境下发生不同程度变化。在零偏条件下,低剂量率(LDR)下损伤明显大于高剂量率(HDR)条件,表现出低剂量率损伤增强效应;而在工作偏置条件下,高剂量率辐照损伤大于低剂量率的,退火实验中,发生损伤恢复现象,表现为时间相关效应.在整个辐照和退火过程中,零偏置损伤比工作偏置损伤大。
语种: 中文
内容类型: 会议论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2336
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王义元;陆妩;任迪远;高博;席善斌;许发月.线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应.见:.,,2010,
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