XJIPC OpenIR  > 材料物理与化学研究室
不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响
胡天乐; 陆妩; 席善斌; 胥佳灵; 吴雪; 张乐情; 卢健; 于新
2011
会议名称2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会
会议日期2011-11-01
会议地点苏州
摘要

本文介绍了LM837双极运算放大器在1.8Mev、1Mev,不同能量不同束流、相同能量不同束流的电子辐照下的辐射效应及常温退火特性。试验结果表明:1.8MeV电子能量辐照引起的LM837辐射损伤比1Mev明显;辐照过程中正偏条件下的偏置电流变化比零偏时微大;不同情况下辐照后的室温退火都表现出“后损伤”效应。本文对能量的不同、偏置的不同所导致的不同损伤机理进行了分析。

关键词运算放大器 辐射效应 电子能量 偏置条件
主办者中国电子学会 广东省电子学会 广东省仪器仪表学会
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2310
专题材料物理与化学研究室
作者单位新疆大学物理科学与技术学院; 中国科学院新疆理化技术研究所; 新疆电子信息材料与器件重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
胡天乐,陆妩,席善斌,等. 不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响[C],2011.
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