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题名:
不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响
作者: 胡天乐; 陆妩; 席善斌; 胥佳灵; 吴雪; 张乐情; 卢健; 于新
会议名称: 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会
会议日期: 2011-11-01
出版日期: 2011
会议地点: 苏州
关键词: 运算放大器 ; 辐射效应 ; 电子能量 ; 偏置条件
主办者: 中国电子学会 广东省电子学会 广东省仪器仪表学会
摘要:

本文介绍了LM837双极运算放大器在1.8Mev、1Mev,不同能量不同束流、相同能量不同束流的电子辐照下的辐射效应及常温退火特性。试验结果表明:1.8MeV电子能量辐照引起的LM837辐射损伤比1Mev明显;辐照过程中正偏条件下的偏置电流变化比零偏时微大;不同情况下辐照后的室温退火都表现出“后损伤”效应。本文对能量的不同、偏置的不同所导致的不同损伤机理进行了分析。

内容类型: 会议论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2310
Appears in Collections:材料物理与化学研究室_会议论文

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不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响.pdf(345KB)会议论文--开放获取View 联系获取全文

作者单位: 新疆大学物理科学与技术学院; 中国科学院新疆理化技术研究所; 新疆电子信息材料与器件重点实验室

Recommended Citation:
胡天乐,陆妩,席善斌,等. 不同电子能量辐照下偏置对运算放大器辐射效应的影响[C]. 见:2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会. 苏州. 2011-11-01.
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