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题名: 氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析
其他题名: impedance spectroscopy of microwave sintered yttria stabilized zirconia (ysz)
作者: 赵青; 常爱民; 简家文; 巴维真; 李志军
关键词: YSZ ; 微波烧结 ; 复阻抗 ; 电导率
刊名: 功能材料
发表日期: 2004
卷: 35, 期:z1, 页:936-938
资助者: 中国科学院“西部之光”人才培养计划资助项目
摘要: 研究了8mol%Y2O3掺杂ZrO2(8YSZ)材料微波烧结陶瓷在300~850℃温度范围内的交流复阻抗谱,获得了该材料的温度-离子电导率曲线,并与常规烧结的陶瓷体进行了比较.结果发现8YSZ的微波烧结陶瓷的晶界势垒在550℃被击穿,常规烧结陶瓷的晶界势垒在500℃被击穿.击穿后晶界电阻消失,离子电导率的变化主要由晶粒电导率的变化决定.在击穿温度点以下,陶瓷体的离子电导率随温度的升高呈波浪式上升,即曲线呈上升~下降~上升趋势.
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2252
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氧化钇稳定二氧化锆_YSZ_微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析.pdf(238KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 中国科学院新疆理化技术研究所;电子科技大学微电子与固体电子学院;新疆大学物理系

Recommended Citation:
赵青,常爱民,简家文,等. 氧化钇稳定二氧化锆(YSZ)微波烧结陶瓷的复阻抗谱分析[J]. 功能材料,2004,35(z1):936-938.
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