XJIPC OpenIR  > 材料物理与化学研究室
电子元器件屏蔽封装材料的屏蔽效果
其他题名effectiveness of electronic device shielded packages
文林; 张军; 郭旗; 任迪远; 孙静; 郑玉展; 王改丽
2008
发表期刊新疆大学学报(自然科学版)
ISSN1000-2839
卷号25期号:3页码:322-324
摘要针对电子元器件屏蔽封装材料的屏蔽效果评估方法及理论计算在器件屏蔽封装中应用的问题,本文通过理论计算一种屏蔽材料对1.0MeV电子的屏蔽效果,以及对应的实验验证,指出此种屏蔽材料有很好的屏蔽电子辐射作用.研究证明了理论与实验相互验证的方法能很好的评估屏蔽材料的屏蔽效果,同时指出理论计算的结果能在屏蔽材料设计中作为依据.
关键词屏蔽材料 理论计算 Mos 电子辐照
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2089
专题材料物理与化学研究室
作者单位新疆大学物理科学与技术学院;中国科学院新疆理化技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
文林,张军,郭旗,等. 电子元器件屏蔽封装材料的屏蔽效果[J]. 新疆大学学报(自然科学版),2008,25(3):322-324.
APA 文林.,张军.,郭旗.,任迪远.,孙静.,...&王改丽.(2008).电子元器件屏蔽封装材料的屏蔽效果.新疆大学学报(自然科学版),25(3),322-324.
MLA 文林,et al."电子元器件屏蔽封装材料的屏蔽效果".新疆大学学报(自然科学版) 25.3(2008):322-324.
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