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题名: 双极运算放大器辐射损伤效应研究
其他题名: investigation on radiation effects of bipolar operational amplifiers
作者: 郑玉展; 陆妩; 任迪远; 王改丽; 文林; 孙静
关键词: 双极运算放大器 ; 60Coγ辐射 ; 辐射效应 ; 增强因子
刊名: 核技术
发表日期: 2008
卷: 31, 期:4, 页:270-274
摘要: 本文研究了不同制造商的同型号双极运算放大器的辐射效应和室温退火行为,发现同型号产品的辐射效应有很大差异。我们分析了此类辐射效应差异的主要原因,对双极运算放大器高低剂量率下的辐射效应作了解释。计算了它们的损伤增强因子和退火因子,结果表明,同种型号运放电路的损伤增强因子间的最大差异可达约8倍。
英文摘要: Radiation effects and room-temperature annealing behaviors of bipolar operational amplifiers (op amps) of the same type but different manufacturers are investigated in this paper. It was found that the radiation effects of the same type op amps differed a lot among the manufacturers. The main reasons of the radiation-effect difference are analyzed and discussed, and radiation effects at high and low dose rates are explained. The damage enhancement factor and annealing factor of the op amps are calculated, and the biggest difference of the enhancement factor among different manufacturers is about 8.
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2062
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双极运算放大器辐射损伤效应研究.pdf(299KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 中国科学院新疆理化技术研究所;中国科学院研究生院

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郑玉展,陆妩,任迪远,等. 双极运算放大器辐射损伤效应研究[J]. 核技术,2008,31(4):270-274.
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