XJIPC OpenIR  > 材料物理与化学研究室
双极运算放大器辐射损伤效应研究
其他题名investigation on radiation effects of bipolar operational amplifiers
郑玉展; 陆妩; 任迪远; 王改丽; 文林; 孙静
2008
发表期刊核技术
ISSN0253-3219
卷号31期号:4页码:270-274
摘要

本文研究了不同制造商的同型号双极运算放大器的辐射效应和室温退火行为,发现同型号产品的辐射效应有很大差异。我们分析了此类辐射效应差异的主要原因,对双极运算放大器高低剂量率下的辐射效应作了解释。计算了它们的损伤增强因子和退火因子,结果表明,同种型号运放电路的损伤增强因子间的最大差异可达约8倍。

其他摘要

Radiation effects and room-temperature annealing behaviors of bipolar operational amplifiers (op amps) of the same type but different manufacturers are investigated in this paper. It was found that the radiation effects of the same type op amps differed a lot among the manufacturers. The main reasons of the radiation-effect difference are analyzed and discussed, and radiation effects at high and low dose rates are explained. The damage enhancement factor and annealing factor of the op amps are calculated, and the biggest difference of the enhancement factor among different manufacturers is about 8.

关键词双极运算放大器 60coγ辐射 辐射效应 增强因子
收录类别CSCD
CSCD记录号CSCD:3272001
引用统计
被引频次:3[CSCD]   [CSCD记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2062
专题材料物理与化学研究室
作者单位中国科学院新疆理化技术研究所;中国科学院研究生院
推荐引用方式
GB/T 7714
郑玉展,陆妩,任迪远,等. 双极运算放大器辐射损伤效应研究[J]. 核技术,2008,31(4):270-274.
APA 郑玉展,陆妩,任迪远,王改丽,文林,&孙静.(2008).双极运算放大器辐射损伤效应研究.核技术,31(4),270-274.
MLA 郑玉展,et al."双极运算放大器辐射损伤效应研究".核技术 31.4(2008):270-274.
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