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题名:
12位双极数模转换器高低剂量率的辐射效应
其他题名: radiation effects of a 12-bit bipolar digital-to-analog converter under different dose rates
作者: 王义元; 陆妩; 任迪远; 郑玉展; 高博; 李鹏伟; 于跃
关键词: 数模转换器 ; 辐射效应 ; 室温退火 ; ELDRS
刊名: 核技术
发表日期: 2008
卷: 31, 期:9, 页:685-688
摘要: 通过对12位双极数模转换器在60Co γ射线的高低剂量率的辐照实验和室温退火实验的对比分析,发现数模混合电路在不同剂量率辐照下的电离辐照响应有很大差异.这种混合电路不但表现出明显的低剂量率损伤增强效应,而且表现出时间相关效应.结合辐射响应测试过程和空间电荷模型,对其损伤模块和辐射损伤机理进行初步探讨.
英文摘要: Total-dose effects and room-temperature annealing behavior of bipolar digital-to-analog converter (DAC) irradiated by 60Co γ-rays were investigated. The results show that the response of the DAC is different between low-and high-dose-rate irradiation. It was found that the integrated circuits exhibit ELDRS and time dependence effect as well. Based on the space charge model, possible mechanism for this response is discussed.
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2033
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12位双极数模转换器高低剂量率的辐射效应.pdf(249KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 中国科学院新疆理化技术研究所;中国科学院研究生院

Recommended Citation:
王义元,陆妩,任迪远,等. 12位双极数模转换器高低剂量率的辐射效应[J]. 核技术,2008-01-01,31(9):685-688.
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