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题名: 双极晶体管不同温度的退火效应与机理
其他题名: the effect and mechanism of the bipolar junction transistor in different temperature
作者: 汪东; 陆妩; 任迪远; 李爱武; 匡治兵; 张华林
关键词: 双极晶体管 ; 退火效应 ; 界面态
刊名: 核电子学与探测技术
发表日期: 2007
卷: 27, 期:1, 页:150-153
摘要: 研究了双极晶体管不同温度下的退火效应,发现双极晶体管的退火与温度有关,而且不同类型晶体管的退火效应是有差异的,最后文章讨论了其中可能的内在机制.
英文摘要: The annealing-effect of bipolar junction transistor in different temperature is investigated. It is found that the anneal of the bipolar transistor is related to the annealing-temperature, and the annealing-effect of the different type transistor is dissimilar. The possible mechanism is discussed.
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1931
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双极晶体管不同温度的退火效应与机理.pdf(240KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 中国科学院新疆理化技术研究所;长沙理工大学

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汪东,陆妩,任迪远,等. 双极晶体管不同温度的退火效应与机理[J]. 核电子学与探测技术,2007,27(1):150-153.
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