三端稳压器的总剂量效应
王义元; 陆妩; 任迪远; 郑玉展; 高博; 陈睿
2010
Source Publication核技术
ISSN0253-3219
Volume33Issue:6Pages:465-468
Abstract

本文对电子系统中通用的集成三端稳压器在不同负载条件下做60Coγ电离辐照试验来研究它的性能变化和抗总剂量特征。试验结果发现,稳压器的输出电压、最大负载电流等都为敏感参数,变化较明显;但不同器件间的抗总剂量水平不同。因此,设计工作在辐射环境中的电路时,尽量选用固定输出的三端稳压器,且最大负载电流保留一定设计余量,在辐照后仍能满足电路系统的需求。

Keyword三端稳压器 电离辐射 总剂量效应
Indexed ByCSCD
CSCD IDCSCD:3922743
Citation statistics
Cited Times:3[CSCD]   [CSCD Record]
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1726
Collection新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室
材料物理与化学研究室
Corresponding Author陆妩
Affiliation中国科学院新疆理化技术研究所;新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院研究生院
Recommended Citation
GB/T 7714
王义元,陆妩,任迪远,等. 三端稳压器的总剂量效应[J]. 核技术,2010,33(6):465-468.
APA 王义元,陆妩,任迪远,郑玉展,高博,&陈睿.(2010).三端稳压器的总剂量效应.核技术,33(6),465-468.
MLA 王义元,et al."三端稳压器的总剂量效应".核技术 33.6(2010):465-468.
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