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学科主题: Engineering (provided by Thomson Reuters)
题名: 电荷耦合器件的~(60)Co γ射线辐照损伤退火效应
其他题名: annealing effects of charge coupled devices after ~(60)cogammairradiation
作者: 李鹏伟; 郭旗; 任迪远; 于跃; 兰博; 李茂顺
关键词: Charge coupled devices ; Digital cameras ; Experiments ; Gamma rays
刊名: 原子能科学技术
发表日期: 2010
卷: 44, 期:5, 页:603-607
收录类别: CSCD
摘要: 基于60Coγ射线辐照后的商用电荷耦合器件(CCD),对室温退火和100℃高温退火实验进行研究。考察了CCD的功耗电流、输出信号电压波形及光响应灵敏度等参数的变化。结果表明,CCD辐照过程中产生的氧化物电荷和界面态导致了CCD参数在室温和高温退火中的不同表现。
英文摘要: Annealing experiment of commercial charge coupled devices (CCD) irradiated by gamma rays was carried out at room temperature and 100 °C. Power currents, output signal voltage and optical response sensitivity of CCD were investigated during experiment. The result shows that oxide charges and interface traps result in different behaviors of CCD's parameter during room temperature and 100 °C annealing.
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内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1719
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电荷耦合器件的_60_Co_射线辐照损伤退火效应.pdf(1268KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 中国科学院新疆理化技术研究所;中国科学院研究生院

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李鹏伟,郭旗,任迪远,等. 电荷耦合器件的~(60)Co γ射线辐照损伤退火效应[J]. 原子能科学技术,2010,44(5):603-607.
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