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题名: 抗辐射加固封装国产存储器的电子辐照试验
作者: 卫宁; 王剑峰; 杜婕; 周聪莉; 郭旗; 文林
关键词: 抗辐射封装 ; 屏蔽 ; 存储器芯片 ; 电子辐照试验
刊名: 信息与电子工程
发表日期: 2010
期: 1, 页:87-90
摘要: 用特种复合屏蔽材料和缝焊封接工艺进行抗辐射封装,在普通封装存储器28C256的基础上,研制了抗辐射封装加固存储器LS28C256R。设计专用试验测试电路板和测试软件,以进行存储器器件加电工作条件下电子加速器辐照试验的动态测试。辐照对比试验结果表明,加固存储器LS28C256R的抗电子源辐照能力比普通封装存储器28C256提高1~2个数量级,为商用成品(Commercial Off-The-Shelf,COTS)器件在空间领域中的应用提供了技术支撑。
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1707
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抗辐射加固封装国产存储器的电子辐照试验.pdf(1771KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 航天时代电子公司第771研究所;中国科学院新疆理化技术研究所

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卫宁,王剑峰,杜婕,等. 抗辐射加固封装国产存储器的电子辐照试验[J]. 信息与电子工程,2010(1):87-90.
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