XJIPC OpenIR  > 材料物理与化学研究室

Browse/Search Results:  1-10 of 209 Help

Filters                    
Selected(0)Clear Items/Page:    Sort:
γ射线及质子辐照导致CCD光谱响应退化的机制 期刊论文
发光学报, 2018, 卷号: 39, 期号: 2, 页码: 244-250
Authors:  文林;  李豫东;  郭旗;  汪朝敏
Adobe PDF(1365Kb)  |  Favorite  |  View/Download:66/0  |  Submit date:2018/03/13
电荷耦合器件  电离效应  位移损伤  光谱响应  
国产pnp双极晶体管在宽总剂量范围辐照下的ELDRS 期刊论文
半导体技术, 2018, 卷号: 43, 期号: 5, 页码: 369-374
Authors:  魏昕宇;  陆妩;  李小龙;  王信;  孙静;  于新;  姚帅;  刘默寒;  郭旗
Adobe PDF(2030Kb)  |  Favorite  |  View/Download:185/0  |  Submit date:2018/06/13
国产pnp型双极晶体管  宽总剂量范围  低剂量率损伤增强效应(Eldrs)  辐射损伤  剂量率  
质子辐射导致CCD热像素产生的机制研究 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 115-119+125
Authors:  刘元;  文林;  李豫东;  何承发;  郭旗;  孙静;  冯婕;  曾俊哲;  马林东;  张翔;  王田珲
Adobe PDF(756Kb)  |  Favorite  |  View/Download:45/0  |  Submit date:2018/03/19
电荷耦合器件  质子辐射效应  热像素  
双多晶自对准NPN管的总剂量辐射效应研究 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 120-125
Authors:  贾金成;  陆妩;  吴雪;  张培健;  孙静;  王信;  李小龙;  刘默寒;  郭旗;  刘元
Adobe PDF(1160Kb)  |  Favorite  |  View/Download:49/0  |  Submit date:2018/03/19
双多晶自动准  Npn管  60co-γ辐射  辐射损伤  
深紫外非线性光学晶体材料:发展趋势和创新探索 期刊论文
科学通报, 2018, 卷号: 63, 期号: 11, 页码: 998-1011
Authors:  盖敏强;  王颖;  潘世烈
Adobe PDF(1760Kb)  |  Favorite  |  View/Download:57/2  |  Submit date:2018/06/13
深紫外  Nlo晶体  Kbbf  倍频效应  
大米淀粉硬碳负极材料的制备及其电化学性能研究 期刊论文
化工新型材料, 2018, 卷号: 46, 期号: 1, 页码: 229-232+236
Authors:  王磊;  胡鹏飞;  乔永民;  谢秋生;  刘萍
Adobe PDF(1086Kb)  |  Favorite  |  View/Download:51/1  |  Submit date:2018/02/25
锂离子电池  淀粉  硬碳  电化学性能  
典型模拟电路低剂量率辐照损伤增强效应的研究与评估 期刊论文
物理学报, 2018, 卷号: 67, 期号: 9, 页码: 202-209
Authors:  李小龙;  陆妩;  王信;  郭旗;  何承发;  孙静;  于新;  刘默寒;  贾金成;  姚帅;  魏昕宇
Adobe PDF(618Kb)  |  Favorite  |  View/Download:63/1  |  Submit date:2018/09/12
双极模拟电路  低剂量率辐照损伤增强效应  加速评估方法  
沟道宽度对65nm金属氧化物半导体器件负偏压温度不稳定性的影响研究 期刊论文
电子学报, 2018, 卷号: 46, 期号: 5, 页码: 1128-1132
Authors:  崔江维;  郑齐文;  余德昭;  周航;  苏丹丹;  马腾;  魏莹;  余学峰;  郭旗
Adobe PDF(1320Kb)  |  Favorite  |  View/Download:81/0  |  Submit date:2018/07/06
65nm  负偏压温度不稳定性  沟道宽度  
总剂量辐射对65 nm NMOSFET热载流子敏感参数的影响 期刊论文
微电子学, 2018, 卷号: 48, 期号: 1, 页码: 126-130
Authors:  苏丹丹;  周航;  郑齐文;  崔江维;  孙静;  马腾;  魏莹;  余学峰;  郭旗
Adobe PDF(1083Kb)  |  Favorite  |  View/Download:41/0  |  Submit date:2018/03/19
65 Nm Nmosfet  总剂量效应  热载流子效应  
CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理 期刊论文
光学精密工程, 2017, 卷号: 25, 期号: 10, 页码: 2676-2681
Authors:  冯婕;  李豫东;  文林;  周东;  马林东
Adobe PDF(327Kb)  |  Favorite  |  View/Download:82/0  |  Submit date:2017/11/20
Cmos图像传感器  辐照  光子转移曲线  转换增益