线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应
王义元; 陆妩; 任迪远; 高博; 席善斌; 许发月
2010
Source Publication原子能科学技术
ISSN1000-6931
Volume44增刊Issue:1Pages:550-555
Abstract

为对工作在空间电离环境中稳压器的电离总剂量及剂量率效应进行研究,选择一种常用的低压差线性稳压器进行了不同偏置的高低剂量率的电离辐照和退火实验。结合电路特征和电离辐射效应,对线性稳压器产生蜕变的原因进行分析。结果显示,器件输出电压、线性调整率、负载调整率等关键参数在电离辐射环境下发生不同程度变化。在零偏条件下,低剂量率(LDR)下损伤明显大于高剂量率(HDR)条件,表现出低剂量率损伤增强效应;而在工作偏置条件下,高剂量率辐照损伤大于低剂量率的,退火实验中,发生损伤恢复现象,表现为时间相关效应。在整个辐照和退火过程中,零偏置损伤比工作偏置损伤大。

Keyword线性稳压器 电离辐射 剂量率效应 偏置
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1697
Collection新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室
材料物理与化学研究室
Corresponding Author陆妩
Affiliation中国科学院新疆理化技术研究所;新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院研究生院
Recommended Citation
GB/T 7714
王义元,陆妩,任迪远,等. 线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应[J]. 原子能科学技术,2010,44增刊(1):550-555.
APA 王义元,陆妩,任迪远,高博,席善斌,&许发月.(2010).线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应.原子能科学技术,44增刊(1),550-555.
MLA 王义元,et al."线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应".原子能科学技术 44增刊.1(2010):550-555.
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