线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应
王义元; 陆妩; 任迪远; 高博; 席善斌; 许发月
2010
发表期刊原子能科学技术
期号1页码:550-555
摘要为对工作在空间电离环境中稳压器的电离总剂量及剂量率效应进行研究,选择一种常用的低压差线性稳压器进行了不同偏置的高低剂量率的电离辐照和退火实验。结合电路特征和电离辐射效应,对线性稳压器产生蜕变的原因进行分析。结果显示,器件输出电压、线性调整率、负载调整率等关键参数在电离辐射环境下发生不同程度变化。在零偏条件下,低剂量率(LDR)下损伤明显大于高剂量率(HDR)条件,表现出低剂量率损伤增强效应;而在工作偏置条件下,高剂量率辐照损伤大于低剂量率的,退火实验中,发生损伤恢复现象,表现为时间相关效应。在整个辐照和退火过程中,零偏置损伤比工作偏置损伤大。
关键词线性稳压器 电离辐射 剂量率效应 偏置
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1697
专题新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室
作者单位中国科学院新疆理化技术研究所;新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院研究生院
推荐引用方式
GB/T 7714
王义元,陆妩,任迪远,等. 线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应[J]. 原子能科学技术,2010(1):550-555.
APA 王义元,陆妩,任迪远,高博,席善斌,&许发月.(2010).线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应.原子能科学技术(1),550-555.
MLA 王义元,et al."线性稳压器不同偏置下电离总剂量及剂量率效应".原子能科学技术 .1(2010):550-555.
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