应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计
张乐情; 郭旗; 李豫东; 卢健; 张兴尧; 胥佳灵; 于新
2012
发表期刊半导体技术
ISSN1003-353X
卷号37期号:7页码:562-566
摘要

电荷耦合器件(CCD)辐射效应测试系统需具备通用性。通常情况下需要为每一种CCD设计一款测试电路,无法满足通用性要求,通用性电路的难点在于不同CCD要求不同的驱动通道数、驱动时序、信号占空比及工作点。提出了一种适用于多种CCD的测试电路设计方法。以现场可编程门阵列(FPGA)负责时序发生、工作点调节及整个系统的控制,驱动模块采用工作点可调的模式,并结合电荷泵技术,仅需更改FPGA设计及给驱动模块提供不同的工作点电压,便可使以上驱动参数可调,实现测试电路的通用性。采用该方法进行测试还可以适应CCD辐照后工作点的变化。最后通过正确驱动TCD1209线阵CCD和4096×96型TDI-CCD,并对TDI-CCD总剂量辐照实验进行正确的参数测试,验证了通用测试电路设计方法的可行性。

关键词电荷耦合器件 辐射效应 现场可编程门阵列 通用测试电路 电离总剂量
收录类别CSCD
CSCD记录号CSCD:4571845
引用统计
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1514
专题新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室
作者单位中国科学院新疆理化技术研究所;中国科学院新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院研究生院
推荐引用方式
GB/T 7714
张乐情,郭旗,李豫东,等. 应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计[J]. 半导体技术,2012,37(7):562-566.
APA 张乐情.,郭旗.,李豫东.,卢健.,张兴尧.,...&于新.(2012).应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计.半导体技术,37(7),562-566.
MLA 张乐情,et al."应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计".半导体技术 37.7(2012):562-566.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计.(734KB)期刊论文作者接受稿开放获取CC BY-NC-SA浏览 请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[张乐情]的文章
[郭旗]的文章
[李豫东]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[张乐情]的文章
[郭旗]的文章
[李豫东]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[张乐情]的文章
[郭旗]的文章
[李豫东]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: 应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计.pdf
格式: Adobe PDF
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。