应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计
张乐情; 郭旗; 李豫东; 卢健; 张兴尧; 胥佳灵; 于新
2012
Source Publication半导体技术
ISSN1003-353X
Volume37Issue:7Pages:562-566
Abstract

电荷耦合器件(CCD)辐射效应测试系统需具备通用性。通常情况下需要为每一种CCD设计一款测试电路,无法满足通用性要求,通用性电路的难点在于不同CCD要求不同的驱动通道数、驱动时序、信号占空比及工作点。提出了一种适用于多种CCD的测试电路设计方法。以现场可编程门阵列(FPGA)负责时序发生、工作点调节及整个系统的控制,驱动模块采用工作点可调的模式,并结合电荷泵技术,仅需更改FPGA设计及给驱动模块提供不同的工作点电压,便可使以上驱动参数可调,实现测试电路的通用性。采用该方法进行测试还可以适应CCD辐照后工作点的变化。最后通过正确驱动TCD1209线阵CCD和4096×96型TDI-CCD,并对TDI-CCD总剂量辐照实验进行正确的参数测试,验证了通用测试电路设计方法的可行性。

Keyword电荷耦合器件 辐射效应 现场可编程门阵列 通用测试电路 电离总剂量
Indexed ByCSCD
CSCD IDCSCD:4571845
Citation statistics
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1514
Collection新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室
材料物理与化学研究室
Affiliation中国科学院新疆理化技术研究所;中国科学院新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院研究生院
Recommended Citation
GB/T 7714
张乐情,郭旗,李豫东,等. 应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计[J]. 半导体技术,2012,37(7):562-566.
APA 张乐情.,郭旗.,李豫东.,卢健.,张兴尧.,...&于新.(2012).应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计.半导体技术,37(7),562-566.
MLA 张乐情,et al."应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计".半导体技术 37.7(2012):562-566.
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