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题名: 氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响
作者: 席善斌; 陆妩; 王志宽; 任迪远; 周东; 文林; 孙静
关键词: NPN双极晶体管 ; 60Coγ辐照 ; 氧化层厚度 ; 剂量率效应
刊名: 核技术
发表日期: 2012
期: 2, 页:104-108
摘要: 研究了不同氧化层厚度的两种国产NPN双极晶体管在高低剂量率下的辐射效应和退火特性。结果显示,随总剂量的增加,晶体管基极电流增大,电流增益下降,且薄氧化层的晶体管比常规厚氧化层的晶体管退化更严重。另外,两种NPN晶体管均表现出明显的低剂量率损伤增强效应。本文对各种实验现象的损伤机理进行了分析。
内容类型: 期刊论文
URI标识: http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1486
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氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响.pdf(670KB)期刊论文作者接受稿开放获取View 联系获取全文

作者单位: 新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院新疆理化技术研究所;中国科学院研究生院;模拟集成电路国家重点实验室

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席善斌,陆妩,王志宽,等. 氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响[J]. 核技术,2012(2):104-108.
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