氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响
席善斌; 陆妩; 王志宽; 任迪远; 周东; 文林; 孙静
2012
Source Publication核技术
ISSN0253-3219
Volume35Issue:2Pages:104-108
Abstract

研究了不同氧化层厚度的两种国产NPN双极晶体管在高低剂量率下的辐射效应和退火特性。结果显示,随总剂量的增加,晶体管基极电流增大,电流增益下降,且薄氧化层的晶体管比常规厚氧化层的晶体管退化更严重。另外,两种NPN晶体管均表现出明显的低剂量率损伤增强效应。本文对各种实验现象的损伤机理进行了分析。

KeywordNpn双极晶体管 60coγ辐照 氧化层厚度 剂量率效应
Indexed ByCSCD
CSCD IDCSCD:4458392
Citation statistics
Cited Times:1[CSCD]   [CSCD Record]
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1486
Collection新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室
材料物理与化学研究室
Affiliation新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院新疆理化技术研究所;中国科学院研究生院;模拟集成电路国家重点实验室
Recommended Citation
GB/T 7714
席善斌,陆妩,王志宽,等. 氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响[J]. 核技术,2012,35(2):104-108.
APA 席善斌.,陆妩.,王志宽.,任迪远.,周东.,...&孙静.(2012).氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响.核技术,35(2),104-108.
MLA 席善斌,et al."氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响".核技术 35.2(2012):104-108.
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