PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Co γ辐照高温退火评估方法
许发月; 陆妩; 王义元; 席善斌; 李明; 王飞; 周东
2011
Source Publication核技术
ISSN0253-3219
Volume34Issue:11Pages:810-814
Abstract

选用了三种型号的PNP输入双极运算放大器,在正偏和零偏状态下进行了辐照实验,由此对高剂量率辐照后高温退火加速评估方法进行了探索。结果表明,辐照后高温退火的实验结果乘以一定的倍数因子,便可较好地模拟PNP输入双极运算放大器的低剂量率辐照损伤,根据曲线的变化规律可以较快地鉴别器件是否存在低剂量率辐射损伤增强效应。

Keyword双极运算放大器 60coγ辐照 低剂量率辐射损伤增强效应 加速评估方法
Indexed ByCSCD
CSCD IDCSCD:4353677
Citation statistics
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1470
Collection新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室
材料物理与化学研究室
Affiliation中国科学院新疆理化技术研究所;新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院研究生院
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GB/T 7714
许发月,陆妩,王义元,等. PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Co γ辐照高温退火评估方法[J]. 核技术,2011,34(11):810-814.
APA 许发月.,陆妩.,王义元.,席善斌.,李明.,...&周东.(2011).PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Co γ辐照高温退火评估方法.核技术,34(11),810-814.
MLA 许发月,et al."PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Co γ辐照高温退火评估方法".核技术 34.11(2011):810-814.
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