PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Co γ辐照高温退火评估方法
许发月; 陆妩; 王义元; 席善斌; 李明; 王飞; 周东
2011
发表期刊核技术
期号11页码:810-814
摘要选用了三种型号的PNP输入双极运算放大器,在正偏和零偏状态下进行了辐照实验,由此对高剂量率辐照后高温退火加速评估方法进行了探索。结果表明,辐照后高温退火的实验结果乘以一定的倍数因子,便可较好地模拟PNP输入双极运算放大器的低剂量率辐照损伤,根据曲线的变化规律可以较快地鉴别器件是否存在低剂量率辐射损伤增强效应。
关键词双极运算放大器 60coγ辐照 低剂量率辐射损伤增强效应 加速评估方法
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1470
专题新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室
作者单位中国科学院新疆理化技术研究所;新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院研究生院
推荐引用方式
GB/T 7714
许发月,陆妩,王义元,等. PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Co γ辐照高温退火评估方法[J]. 核技术,2011(11):810-814.
APA 许发月.,陆妩.,王义元.,席善斌.,李明.,...&周东.(2011).PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Co γ辐照高温退火评估方法.核技术(11),810-814.
MLA 许发月,et al."PNP输入双极运算放大器ELDRS效应的60Co γ辐照高温退火评估方法".核技术 .11(2011):810-814.
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